單雙晶超聲波測厚儀UC750

概述

單雙晶超聲波測厚儀UC750采用超聲波測量原理，適用于能使超聲波以一恒定速度在其里面傳播，并能從其背面得到反射的材料厚度的測量。

此儀器可對板材和加工零件做準確測量，另一重要方面是可以對生產設備中管道和壓力容器進行監測，監測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。可應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

主要功能

● 單雙晶超聲波測厚儀UC750采用“雜波飛渡技術"，一方面可以實現超薄件的測量，最小厚度（鋼）可達0.15mm；另一方面可以實現高精度測厚，分辯率可達0.001mm；

● 增加雙晶5M、7M探頭，實現0.15-300mm的大量程高精度測量。

● 兩種測量模式底波-回波模式滿足常規厚工件測量

回波-回波模式滿足薄工件測量精度高）

● 可穿越表面涂層進行測量；

● 探頭放在測厚儀試塊上按鍵自動調零；

● 有LED背光顯示，方便在光線昏暗環境中使用；

● 具有聲速校準（反測聲速）或單點校準功能；

● 可以進行報警設置和差值模式設置；

● 公英制轉換；毫米和英寸可切換單位

● 可存儲5種不同材料的聲速

● 可選配4mm單晶探頭、雙晶（4mm探頭、2M高穿透探頭、7M小管徑探頭）

適用材料

適合測量金屬（如鋼、鑄鐵、鋁、銅等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纖維及其他超聲波的良導體的厚度。

基本原理

超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似。探頭發射的超聲波脈沖到達背測物體并在物體中傳播，到達材料分界面時被反射回探頭，通過準確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。

技術參數

材料聲速表

產品展示